絕緣電阻的測(cè)試：

（1）絕緣電阻：在環(huán)境溫度為（15～35）℃、相對(duì)濕度（45～75）%、大氣壓力（86～106）KPa條件下，各端子與外殼之間絕緣電阻不小于20MΩ。

（2）絕緣強(qiáng)度：試驗(yàn)環(huán)境條件同第（1）條，其各端子之間及與外殼之間施加表2所規(guī)定的試驗(yàn)電壓，保持1min，不出現(xiàn)擊穿或飛弧現(xiàn)象。

（3）采用（45～55）Hz的交流電壓，試驗(yàn)電壓按表2規(guī)定。試驗(yàn)應(yīng)在規(guī)定的接線端子之間進(jìn)行。儀表電源開(kāi)關(guān)處于接通位置，各路輸入端子間、輸出端子間、電源端子間分別短接。采用額定直流電壓500V的絕緣電阻表按下述之間端子進(jìn)行檢定，檢定結(jié)果應(yīng)滿(mǎn)足絕緣電阻的規(guī)定。

有過(guò)長(zhǎng)時(shí)間使用無(wú)線溫度驗(yàn)證儀經(jīng)驗(yàn)的人都知道，即便市面上口碑的無(wú)線驗(yàn)證儀，都存在一定的故障概率。如果每年只做一次前校準(zhǔn)，意味著一旦出現(xiàn)故障，上一次前校準(zhǔn)之后的數(shù)據(jù)都將受到質(zhì)疑。我們盡管能通過(guò)交叉對(duì)比或替換法鎖定數(shù)據(jù)明顯異常的故障探頭，卻無(wú)法確定明顯異常與輕微異常之間的臨界點(diǎn)和異常發(fā)生在什么時(shí)候，更無(wú)法證明這種故障是間歇性的還是持續(xù)性存在。

數(shù)字溫度指示調(diào)節(jié)儀

圖片

a.儀表的試驗(yàn)項(xiàng)目應(yīng)包括：指示基本誤差、穩(wěn)定度誤差、設(shè)定點(diǎn)誤差及PID特性試驗(yàn)等。

b.指示基本誤差試驗(yàn)宜采用輸入基準(zhǔn)法校準(zhǔn)，但需重復(fù)試驗(yàn)兩次，取其差值作為被校儀表在該點(diǎn)的誤差。

c.儀表穩(wěn)定度試驗(yàn)包括顯示波動(dòng)量和示值漂移量的測(cè)定，做為評(píng)價(jià)儀表品質(zhì)的參數(shù)，一般儀表顯示波動(dòng)量不得大于其分辨力，1小時(shí)內(nèi)示值漂移量不得大于儀表允許誤差的1/4。

d.帶調(diào)節(jié)功能的儀表，應(yīng)在量程的10%、50%、90%附近，試驗(yàn)校準(zhǔn)設(shè)定點(diǎn)偏差及比例積分微分功能的檢定，設(shè)定點(diǎn)的偏差應(yīng)不大于儀表允許誤差，實(shí)際比例帶應(yīng)在刻度值的±25%的范圍內(nèi)，積分時(shí)間固定的儀表，實(shí)際積分時(shí)間應(yīng)在（1±0.5）Ti范圍內(nèi)。積分微分時(shí)間可調(diào)的儀表，實(shí)際積分微分時(shí)間與積分微分時(shí)間刻度值的允許偏差為±50%。

工藝溫度儀表系統(tǒng)由熱電偶（或熱電阻）、連接導(dǎo)線和溫度二次儀表組成。工藝溫度儀表系統(tǒng)校準(zhǔn)是指工藝溫度儀表（含引線、傳感器）的讀數(shù)或值進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)比較,以便確定已測(cè)量的溫度偏差是否均在有關(guān)要求范圍內(nèi)的一組操作。在AMS2750E也稱(chēng)為“系統(tǒng)精度測(cè)試（SAT）或探針檢查”，其目的是確保爐子的控制系統(tǒng)及每個(gè)控制區(qū)的記錄儀表系統(tǒng)的準(zhǔn)確度符合要求。

國(guó)內(nèi)、國(guó)外相關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)要求，新購(gòu)置或大修后的熱處理爐，使用前除了對(duì)工藝溫度傳感器和儀表進(jìn)行校準(zhǔn)外，還需要完成兩項(xiàng)更重要的工作：一是進(jìn)行工藝溫度儀表系統(tǒng)校準(zhǔn)，以確定該系統(tǒng)的偏差是否符合要求；二是進(jìn)行有效加熱區(qū)溫度均勻性檢測(cè)，確定熱處理爐具有符合工藝要求的工作空間。在溫度均勻性檢測(cè)過(guò)程中，若檢測(cè)結(jié)果表明整體溫度偏高或偏低，則需要對(duì)工藝儀表進(jìn)行調(diào)整。使用中的熱處理也需要按規(guī)定的時(shí)間間隔進(jìn)行工藝溫度儀表系統(tǒng)校準(zhǔn)，這是保證熱處理滿(mǎn)足工藝要求的重要手段之一，不可或缺。