LDO，全稱為“LowDropoutRegulator”，是一種低壓差線性穩(wěn)壓元器件。其工作原理為，使用在其飽和區(qū)域內(nèi)運行的晶體管或場效應(yīng)管（FET），從應(yīng)用的輸入電壓中減去超額的電壓，產(chǎn)生經(jīng)過調(diào)節(jié)的輸出電壓。相比于傳統(tǒng)的DC-DC變換器，LDO具有成本低，噪音低，靜態(tài)電流小的特點，需要的外接元件也很少，因此,LDO廣泛應(yīng)用于需要穩(wěn)壓輸出的場景。

LDO常用的電性能參數(shù)測試，主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差、線性調(diào)整率、負載調(diào)整率、靜態(tài)電流等。由于LDO的測試需要分別采集輸入與輸出端的數(shù)據(jù)，因此一般情況下，測試系統(tǒng)至少需要配置2臺SMU，并采用上位機軟件(PssSMUTools)進行控制。

數(shù)字源表之LDO芯片電性能測試認準武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；普賽斯S系列高精度數(shù)字源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產(chǎn)品輸出電壓達300V，小測試電流量程低至100pA，支持四象限工作，因此,可廣泛應(yīng)用于LDO類芯片測試。詳詢一八一四零六六三四七六

S系列高精度數(shù)字源表特點

5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作

內(nèi)置強大的功能軟件，加速用戶完成測試，如LIV、PIV

源及測量的準確度為0.1%，分辨率5位半

四象限工作（源和肼），源及測量范圍：高至300V，低至10pA

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲，一鍵導(dǎo)出測試報告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

技術(shù)參數(shù)

輸出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：電壓源：±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

電流源：±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

過量程：105%量程，源和測量；

穩(wěn)定負載電容：<22nF；

寬帶噪聲(20MHz)：2mVRMS（典型值），<20mVVp-p（典型值）；

線纜保護電壓：輸出阻抗1KΩ，輸出電壓偏移<80uV；

采樣速率：1000S/s；

觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出，觸發(fā)極性可配置；

輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太網(wǎng)；

電源：AC100~240V50/60Hz；

工作環(huán)境：25±10℃；

尺寸：106mm高×255mm寬×425mm長；

S系列高精度數(shù)字源表應(yīng)用

?分立半導(dǎo)體器件特性測試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

?能量與效率特性測試，LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等

?傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應(yīng)等

?有機材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術(shù)等

?納米材料特性測試，石墨烯、納米線等

選擇普賽斯儀表的理由：

1、國產(chǎn)自主研發(fā)

技術(shù)雄厚，多項磚利，自主可控

2、可定制化方案

聚焦鮮進器件，提供成熟可落地定制化方案

3、對標進口

國貨精品，品質(zhì)保障，對標進口產(chǎn)品

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