HS-JF-Z2藍(lán)寶石定向儀，是我公司基于市場目前缺乏對(duì)晶體生長切割后，需要對(duì)晶圓進(jìn)行晶向指數(shù)分析，晶體長勢(shì)分析，晶體缺陷分析等一系列有益于晶體更完好的呈現(xiàn)，它利用布拉格衍射方程2dHKLsinθn=nλ的基本原理，晶體學(xué)，現(xiàn)代自動(dòng)化技術(shù)，計(jì)算機(jī)軟件技術(shù)等相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)，幫助各大晶體研究類科研院所，結(jié)晶與礦物材料類物理研究院校，國內(nèi)大型長晶企業(yè)，對(duì)晶體的原子層面分析從抽象化分析，相對(duì)有了更具象的概念定義。

設(shè)備基本原理：晶體衍射X射線，其衍射方向是與晶體的周期性(d)有關(guān)的。一個(gè)衍射總可找到一個(gè)晶面族HKL，使它與入射線在此面族上符合反射關(guān)系，就以此面族的符號(hào)HKL作為此衍射之指數(shù)；量測(cè)出晶體的實(shí)際晶面取向夾角，分析出晶向指數(shù)，繪制出相應(yīng)角度與接收到衍射線的強(qiáng)度的關(guān)系，從而幫助分析出原子在晶胞中的分布狀況。

HS-FZ-Z2藍(lán)寶石定向儀具備如下特點(diǎn)： 1.已知，未知角度單晶的多點(diǎn)原子點(diǎn)陣面自動(dòng)定向與分析； 2.多點(diǎn)回?cái)[曲線量測(cè)，方便晶體長勢(shì)分析； 3.同衍射強(qiáng)度多點(diǎn)掃描，方便晶體缺陷，位錯(cuò)，翹曲位置判斷分析； 4.多點(diǎn)數(shù)據(jù)采樣； 5.圖表繪制與表達(dá)，方便分析出加工后晶體的晶面取向；